精準與確信,速度與效率
本次原子光譜技術發布研討會,安捷倫科技正式推出其最新Agilent 8900—串聯四極桿ICP-MS系統,并攜電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP-OES)產品線的新成員Agilent 5110 ICP-OES亮相。安捷倫科技光譜業務中國區銷售總監潘霞、安捷倫科技生命科學和應用市場集團大中華區應用分析市場部經理祝立群、安捷倫科技中國原子光譜應用經理宋娟娥、安捷倫科技中國光譜產品資深應用工程師吳春華等銷售和應用支持團隊出席。此次技術發布研討會吸引眾多原子光譜從業人員、技術人員、研究員及用戶到場,《食品安全導刊》等4家媒體應邀參會。
MS/MS功能,助力清掃干擾
最新Agilent 8900串聯四極桿 ICP-MS系統為電感耦合等離子體質譜系統,能提供可控的反應化學過程,可為之前難以分析的元素(例如硫、硅和磷)提供極低檢測限。該系統還配備有快速檢測器,可為單納米顆粒檢測應用樹立全新標桿。
Agilent 8900 ICP-QQQ不僅具有媲美于安捷倫市場領先的四極桿ICP-MS系統的氦氣模式性能和分析效率,還進一步增強了原有用于在反應模式中實現受控和一致的干擾去除能力的MS/MS模式性能,使這款系統成為世界上功能強大、靈活的多元素分析儀。
2012年,安捷倫發布了首款具有MS/MS功能的串聯四極桿ICP-MS(ICP-QQQ)—Agilent8800,該系統可提供其他ICP-MS系統無法達到的受控和全面干擾去除能力。這款突破性儀器為全球數百個實驗室中的分析人員帶來了全新的分析可能性,并且在半導體、材料和學術研究領域得到了良好應用。安捷倫目前是市場上串聯四極桿ICP-MS技術的獨家供應商。
新一代8900 ICP-QQQ提供多種配置,可覆蓋從常規分析到高級研究和高性能材料分析等多種應用。通過配備更為強大的單納米顆粒測定功能,這款新系統的應用范圍除半導體和學術研究外,還進一步擴展到食品、制藥和生物制藥、化妝品、電子元件以及涂層材料領域。
新型8900 ICP-QQQ 不僅具有更強大的單納米顆粒測定功能,無與倫比的干擾去除能力,還提供能達到極低檢測限的出色性能。此外,8900 ICP-MS/MS可為硫和硅提供更低的檢測限,幫助科學家更準確地分析半導體晶片、高純材料和生命科學樣品中的污染物。
同步雙向觀測,無需妥協
Agilent 5110 ICP-OES這一新型系統以安捷倫的突破性5100 ICP-OES為基礎,后者在一次測量中便可同時采集等離子體水平和垂直觀測信號,這使實驗室在分析過程中的氬氣消耗量減半,從而大大節省了時間和成本。這一新型系統也是一臺雙向觀測系統。
安捷倫光譜產品副總裁Philip Binns曾表示,“Agilent 5100 徹底變革了 ICP-OES 市場,在使用維護成本、性能、簡便易用性方面具有重要價值,而新型 Agilent 5110采用更多項前沿創新延續了這一變革。”
5110擁有項改進新技術——完全集成式高級閥系統(AVS)采用獨特的硬件和軟件技術,實現了超高通量、出色的精度和簡便易用性;IntelliQuant測量實現了快速樣品篩選并簡化了方法開發過程;全新診斷功能最大程度延長了儀器正常運行時間并簡化了故障排除,將使科學家在食品、環境、藥物檢測以及采礦和工業應用中實現比以往更快速、更精確的ICP-OES分析。

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